2001, ISBN: 9781441909275
[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Mehr…
booklooker.de |
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Patrick Girard (u. a.) / Buch / Englisch / 2009 - gebunden oder broschiert
2009, ISBN: 9781441909275
[ED: Gebunden], [PU: Springer US], Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate … Mehr…
booklooker.de |
2001, ISBN: 9781441909275
[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Mehr…
booklooker.de |
2010, ISBN: 9781441909275
*Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices* - 2010 edition / gebundene Ausgabe für 160.49 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik Medien > Bücher nein Buch … Mehr…
Hugendubel.de Versandkosten:Shipping in 7 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., DE. (EUR 0.00) Details... |
2009, ISBN: 9781441909275
[PU: Springer US], Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Buchrücken leicht geknickt, 1. Auflage 2010 5664520/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2010, Banküb… Mehr…
booklooker.de |
2001, ISBN: 9781441909275
[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Mehr…
Girard, Patrick:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Patrick Girard (u. a.) / Buch / Englisch / 2009 - gebunden oder broschiert2009, ISBN: 9781441909275
[ED: Gebunden], [PU: Springer US], Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate … Mehr…
2001
ISBN: 9781441909275
[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Mehr…
2010, ISBN: 9781441909275
*Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices* - 2010 edition / gebundene Ausgabe für 160.49 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik Medien > Bücher nein Buch … Mehr…
2009, ISBN: 9781441909275
[PU: Springer US], Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Buchrücken leicht geknickt, 1. Auflage 2010 5664520/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2010, Banküb… Mehr…
Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Autor: | |
Titel: | |
ISBN-Nummer: |
Detailangaben zum Buch - Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
EAN (ISBN-13): 9781441909275
ISBN (ISBN-10): 1441909273
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2009
Herausgeber: Springer Nature Singapore
363 Seiten
Gewicht: 0,717 kg
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2009-11-13T20:04:16+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-04-19T02:28:16+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 1441909273
ISBN - alternative Schreibweisen:
1-4419-0927-3, 978-1-4419-0927-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: girard patrick, xiaoqi
Titel des Buches: test, the power now
Daten vom Verlag:
Autor/in: Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Titel: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Verlag: Springer; Springer US
363 Seiten
Erscheinungsjahr: 2009-11-23
New York; NY; US
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
XXI, 363 p.
BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Testing; Low Power Design; Low Power Testing; Nanoscale Testing; Nicolici; Power Aware Testing; Semiconductor Testing; VLSI; Wen; power management; semiconductor; testing; Electronic Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Computer-Aided Design (CAD); EA; BC
Fundamentals of VLSI Testing.- Power Issues During Test.- Low-Power Test Pattern Generation.- Power-Aware Design-for-Test.- Power-Aware Test Data Compression and BIST.- Power-Aware System-Level Test Planning.- Low-Power Design Techniques and Test Implications.- Test Strategies for Multivoltage Designs.- Test Strategies for Gated Clock Designs.- Test of Power Management Structures.- EDA Solution for Power-Aware Design-for-Test.Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systems Instructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability Includes necessary background information on design for test and low-power design Incorporates detailed coverage of all levels of abstraction for power-aware testing of (low-power) circuits and systems Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions Includes supplementary material: sn.pub/extras
Weitere, andere Bücher, die diesem Buch sehr ähnlich sein könnten:
Neuestes ähnliches Buch:
9781489983138 Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (Herausgegeben:Nicolici, Nicola Wen, Xiaoqing Girard, Patrick)
- 9781489983138 Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (Herausgegeben:Nicolici, Nicola Wen, Xiaoqing Girard, Patrick)
- 9781441909299 Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
- 9781441909282 Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen)
< zum Archiv...