Anmelden
Tipp von eurobuch.com
Ähnliche Bücher
Weitere, andere Bücher, die diesem Buch sehr ähnlich sein könnten:
Buch verkaufen
Anbieter, die das Buch mit der ISBN 9783838619781 ankaufen:
Suchtools
Buchtipps
Aktuelles
- 0 Ergebnisse
Kleinster Preis: € 32,72, größter Preis: € 82,78, Mittelwert: € 52,12
...
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion - Georg Wiora
(*)
Georg Wiora:
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion - Taschenbuch

ISBN: 3838619781

Paperback, [EAN: 9783838619781], Diplomarbeiten Agentur diplom.de, Diplomarbeiten Agentur diplom.de, Book, [PU: Diplomarbeiten Agentur diplom.de], 1996-01-01, Diplomarbeiten Agentur diplom.de, Diplomarbeit aus dem Jahr 1996 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 1,0, Karlsruher Institut fur Technologie (KIT) (Physik, Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe: Problemstellung: Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der die Auswertung von mikroskopischen Fokusserien, bezuglich der Oberflachenform des Objektes, mit einem Regressionsverfahren bei minimalem Speicherbedarf und sehr hoher Auflosung ermoglicht. Verschiedene strukturierte Raster wurden auf ihre Tauglichkeit zur mikroskopischen Projektion zwecks Kontrasterhohung untersucht. Mehrere Kontrastoperatoren wurden bezuglich ihrer Eignung fur dieses Verfahren gepruft und schliesslich ein kombinierter Operator entworfen, der sich im praktischen Einsatz bewahrt hat. Weiterhin wurde eine Methode entwickelt, um die axiale Auflosung zu bestimmen. Anhand dieses Parameters wurde das System optimiert. Schliesslich wurden die Ursachen verschiedener systematischer Messfehler analysiert und Moglichkeiten zu ihrer Beseitigung entwickelt bzw. aufgezeigt. Inhaltsverzeichnis: Inhaltsverzeichnis: 1.Einleitung1 1.1Motivation1 1.2Geschichte1 1.3Stand der Technik2 1.3.1Laserprofilometer2 1.3.2Streifenprojektion3 1.3.3Stereoskopie3 1.3.4Laser-Scanning-Mikroskop3 1.3.5Rastersondenmikroskop3 1.3.6Konfokale Verfahren4 2.Systembeschreibung5 2.1Aufbau5 2.2Messmethode5 2.3Strukturbeleuchtung7 2.3.1Streuscheibe9 2.3.2Diafilm-Raster9 2.3.3Chrommasken9 2.3.4Auswahl des besten Rasters10 2.4Algorithmus10 2.4.1Scharfbild-, Kontrast-, und Momentenberechnung12 2.4.2Regression13 2.4.3Speicherbedarf13 2.4.4Laufzeit14 3.Kontrastoperatoren15 3.1Lokale Kontrastoperatoren15 3.1.1Laplace-Operator15 3.1.2AND Operator17 3.1.3Sobel Operator19 3.1.4Convsobel Operator19 3.2Globale Kontrastoperatoren22 3.2.1Aufteilung der Raumfrequenzen22 3.2.2Berechnung der Grenzfrequenzen23 3.2.3Fourier-Filterung24 3.3Vergleich der Operatoren25 3.3.1Axiales Auflosungsvermogen25 3.3.2Rechenzeit26 3.3.3Signal-Mittelwert-Verhaltnis27 3.3.4Bew, 922846, Mechanics, 278409, Physics, 57, Science & Nature, 1025612, Subjects, 266239, Books, 922952, Physics, 277889, Cosmology, 278439, Relativity, 922868, Popular Science, 57, Science & Nature, 1025612, Subjects, 266239, Books, 564354, Physics, 571024, Applied Physics, 570990, Electricity, Magnetism & Electromagnetism, 571010, Mechanics, 570994, Particle Physics, 571004, Quantum Mechanics, 570600, Theoretical Physics, 564334, Scientific, Technical & Medical, 1025612, Subjects, 266239, Books

 amazon.co.uk
Blackwell's UK
, Neuware Versandkosten:Europa Zone 1: GBP 5,48 pro Produkt.. Usually dispatched within 6-10 business days (EUR 4.80)
Details...
(*) Derzeit vergriffen bedeutet, dass dieser Titel momentan auf keiner der angeschlossenen Plattform verfügbar ist.
Entwicklung Eines Verfahrens Zur Konfokalen Mikrotopographievermessung Mit Strukturprojektion (Paperback) - Georg Wiora
(*)
Georg Wiora:
Entwicklung Eines Verfahrens Zur Konfokalen Mikrotopographievermessung Mit Strukturprojektion (Paperback) - Taschenbuch

1999, ISBN: 3838619781

ID: 20537007458

[EAN: 9783838619781], Neubuch, [PU: diplom.de, United States], Language: German . Brand New Book ***** Print on Demand *****.Diplomarbeit aus dem Jahr 1996 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 1,0, Karlsruher Institut fur Technologie (KIT) (Physik, Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe: Problemstellung: Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der die Auswertung von mikroskopischen Fokusserien, bezuglich der Oberflachenform des Objektes, mit einem Regressionsverfahren bei minimalem Speicherbedarf und sehr hoher Auflosung ermoglicht. Verschiedene strukturierte Raster wurden auf ihre Tauglichkeit zur mikroskopischen Projektion zwecks Kontrasterhohung untersucht. Mehrere Kontrastoperatoren wurden bezuglich ihrer Eignung fur dieses Verfahren gepruft und schliesslich ein kombinierter Operator entworfen, der sich im praktischen Einsatz bewahrt hat. Weiterhin wurde eine Methode entwickelt, um die axiale Auflosung zu bestimmen. Anhand dieses Parameters wurde das System optimiert. Schliesslich wurden die Ursachen verschiedener systematischer Messfehler analysiert und Moglichkeiten zu ihrer Beseitigung entwickelt bzw. aufgezeigt. Inhaltsverzeichnis: Inhaltsverzeichnis: 1.Einleitung1 1.1Motivation1 1.2Geschichte1 1.3Stand der Technik2 1.3.1Laserprofilometer2 1.3.2Streifenprojektion3 1.3.3Stereoskopie3 1.3.4Laser-Scanning-Mikroskop3 1.3.5Rastersondenmikroskop3 1.3.6Konfokale Verfahren4 2.Systembeschreibung5 2.1Aufbau5 2.2Messmethode5 2.3Strukturbeleuchtung7 2.3.1Streuscheibe9 2.3.2Diafilm-Raster9 2.3.3Chrommasken9 2.3.4Auswahl des besten Rasters10 2.4Algorithmus10 2.4.1Scharfbild-, Kontrast-, und Momentenberechnung12 2.4.2Regression13 2.4.3Speicherbedarf13 2.4.4Laufzeit14 3.Kontrastoperatoren15 3.1Lokale Kontrastoperatoren15 3.1.1Laplace-Operator15 3.1.2AND Operator17 3.1.3Sobel Operator19 3.1.4Convsobel Operator19 3.2Globale Kontrastoperatoren22 3.2.1Aufteilung der Raumfrequenzen22 3.2.2Berechnung der Grenzfrequenzen23 3.2.3Fourier-Filterung24 3.3Vergleich der Operatoren25 3.3.1Axiales Auflosungsvermogen25 3.3.2Rechenzeit26 3.3.3Signal-Mittelwert-Verhaltnis27 3.3.4Bew

 AbeBooks.de
The Book Depository EURO, London, United Kingdom [60485773] [Rating: 4 (von 5)]
NEW BOOK Versandkosten: EUR 3.51
Details...
(*) Derzeit vergriffen bedeutet, dass dieser Titel momentan auf keiner der angeschlossenen Plattform verfügbar ist.
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion - Georg Wiora
(*)
Georg Wiora:
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion - Taschenbuch

ISBN: 3838619781

ID: 12120182927

[EAN: 9783838619781], Neubuch, [PU: Diplomarbeiten Agentur diplom.de], In Stock.

 AbeBooks.de
Revaluation Books, Exeter, United Kingdom [2134736] [Rating: 4 (von 5)]
NEW BOOK Versandkosten: EUR 8.19
Details...
(*) Derzeit vergriffen bedeutet, dass dieser Titel momentan auf keiner der angeschlossenen Plattform verfügbar ist.
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion - Georg Wiora
(*)
Georg Wiora:
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion - Taschenbuch

1999, ISBN: 9783838619781

ID: 29150798

Softcover, Buch, [PU: diplom.de]

 lehmanns.de
Versandkosten:Versand in 7-9 Tagen, , Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00)
Details...
(*) Derzeit vergriffen bedeutet, dass dieser Titel momentan auf keiner der angeschlossenen Plattform verfügbar ist.
Entwicklung Eines Verfahrens Zur Konfokalen Mikrotopographievermessung Mit Strukturprojektion - Georg Wiora
(*)
Georg Wiora:
Entwicklung Eines Verfahrens Zur Konfokalen Mikrotopographievermessung Mit Strukturprojektion - Taschenbuch

ISBN: 9783838619781

ID: 9783838619781

paperback

 Blackwells.co.uk
Blackwells.co.uk
in stock Versandkosten:Usually dispatched within 7 days (EUR 1.02)
Details...
(*) Derzeit vergriffen bedeutet, dass dieser Titel momentan auf keiner der angeschlossenen Plattform verfügbar ist.

Details zum Buch
Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion

Diplomarbeit aus dem Jahr 1996 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 1,0, Karlsruher Institut fur Technologie (KIT) (Physik, Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe: Problemstellung: Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der die Auswertung von mikroskopischen Fokusserien, bezuglich der Oberflachenform des Objektes, mit einem Regressionsverfahren bei minimalem Speicherbedarf und sehr hoher Auflosung ermoglicht. Verschiedene strukturierte Raster wurden auf ihre Tauglichkeit zur mikroskopischen Projektion zwecks Kontrasterhohung untersucht. Mehrere Kontrastoperatoren wurden bezuglich ihrer Eignung fur dieses Verfahren gepruft und schliesslich ein kombinierter Operator entworfen, der sich im praktischen Einsatz bewahrt hat. Weiterhin wurde eine Methode entwickelt, um die axiale Auflosung zu bestimmen. Anhand dieses Parameters wurde das System optimiert. Schliesslich wurden die Ursachen verschiedener systematischer Messfehler analysiert und Moglichkeiten zu ihrer Beseitigung entwickelt bzw. aufgezeigt. Inhaltsverzeichnis: Inhaltsverzeichnis: 1.Einleitung1 1.1Motivation1 1.2Geschichte1 1.3Stand der Technik2 1.3.1Laserprofilometer2 1.3.2Streifenprojektion3 1.3.3Stereoskopie3 1.3.4Laser-Scanning-Mikroskop3 1.3.5Rastersondenmikroskop3 1.3.6Konfokale Verfahren4 2.Systembeschreibung5 2.1Aufbau5 2.2Messmethode5 2.3Strukturbeleuchtung7 2.3.1Streuscheibe9 2.3.2Diafilm-Raster9 2.3.3Chrommasken9 2.3.4Auswahl des besten Rasters10 2.4Algorithmus10 2.4.1Scharfbild-, Kontrast-, und Momentenberechnung12 2.4.2Regression13 2.4.3Speicherbedarf13 2.4.4Laufzeit14 3.Kontrastoperatoren15 3.1Lokale Kontrastoperatoren15 3.1.1Laplace-Operator15 3.1.2AND Operator17 3.1.3Sobel Operator19 3.1.4Convsobel Operator19 3.2Globale Kontrastoperatoren22 3.2.1Aufteilung der Raumfrequenzen22 3.2.2Berechnung der Grenzfrequenzen23 3.2.3Fourier-Filterung24 3.3Vergleich der Operatoren25 3.3.1Axiales Auflosungsvermogen25 3.3.2Rechenzeit26 3.3.3Signal-Mittelwert-Verhaltnis27 3.3.4Bew

Detailangaben zum Buch - Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion


EAN (ISBN-13): 9783838619781
ISBN (ISBN-10): 3838619781
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2016
Herausgeber: diplom.de

Buch in der Datenbank seit 2010-02-03T12:07:09+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2018-06-30T14:10:33+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783838619781

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-8386-1978-1, 978-3-8386-1978-1


< zum Archiv...
Benachbarte Bücher