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An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors - Amarish Dubey
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Amarish Dubey:
An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors - neues Buch

ISBN: 9783659246685

ID: 02ffd439066b23cbee4d5de7c3d9cb19

Single Effect is a big challenge for VLSI Industries. All kind of Aircraft are suffering with this issue. So A excellent mitigation scheme is required to withstand with this issue. Keeping this issue in the mind, this book has been written. The book started with the semiconductor memories description then radiation effects and step by step to mitigation schemes. The mitigation schemes with effect at different parameters is also given with comparison so that a researcher can easily take reference and move for further research. This book is written in very easy and interesting language so that even a beginner can understand easily Bücher / Naturwissenschaften, Medizin, Informatik & Technik / Technik / Elektronik & Elektrotechnik

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An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors - Dubey, Amarish
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Dubey, Amarish:
An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors - Taschenbuch

ISBN: 3659246689

Gebundene Ausgabe, ID: 13084821

Single Event Effects in Memories and Different Mitigation Strategies for Single Event Effects - Buch, gebundene Ausgabe, 112 S., Beilagen: Paperback, Erschienen: 2012 LAP Lambert Academic Publishing

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An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors - Dubey, Amarish
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An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors - Taschenbuch

2012, ISBN: 3659246689

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Single Event Effects in Memories and Different Mitigation Strategies for Single Event Effects - Buch, gebundene Ausgabe, 112 S., Beilagen: Paperback, Erschienen: 2012 LAP Lambert Academic Publishing

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