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Model Checking and Artificial Intelligence: 6th International Workshop, MoChArt 2010, Atlanta, GA, USA, July 11, 2010, Revised Selected and Invited Papers - Ron van der Meyden, Jan-Georg Smaus
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Ron van der Meyden, Jan-Georg Smaus:

Model Checking and Artificial Intelligence: 6th International Workshop, MoChArt 2010, Atlanta, GA, USA, July 11, 2010, Revised Selected and Invited Papers - Taschenbuch

2010, ISBN: 3642206751

Paperback, [EAN: 9783642206757], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 280291, Human Vision & Language Systems, 3887, Artificial Intelligence, 3508, Computer Science, 5, Com… Mehr…

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Details zum Buch

Detailangaben zum Buch - Model Checking and Artificial Intelligence: 6th International Workshop, MoChArt 2010, Atlanta, GA, USA, July 11, 2010, Revised Selected and Invited Papers


ISBN (ISBN-10): 3642206751 (ISBN-13: 9783642206757)
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer

Buch in der Datenbank seit 2015-01-22T07:19:26+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2015-01-22T07:19:26+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783642206757

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-20675-1
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: smaus


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