[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [SC: 3.5], [PU: Artech House Inc], INGENIEURWISSENSCHAFT & TECHNIK / NATURWISSENSCHAFTEN ELEKTROTECHNIK TECHNOLOGIE, 556 Seiten Gepflegtes ehemaliges Bibliotheksexemplar mit den üblichen Kennzeichnungen (z.B. Barcode und Inventarisierungsnummer); in der Regel foliiert (Umschlag aus selbstklebender Folie). Zustand unter Berücksichtigung des Alters gut. Tagesaktueller, sicherer und weltweiter Versand. Wir liefern grundsätzlich mit beiliegender Rechnung. 669737.01 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1089, Books<
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A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
Detailangaben zum Buch - Microelectronic Reliability
EAN (ISBN-13): 9780890063507 ISBN (ISBN-10): 0890063508 Gebundene Ausgabe Taschenbuch Erscheinungsjahr: 1989 Herausgeber: Artech House Publishers 556 Seiten Gewicht: 1,089 kg Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2007-07-28T05:00:15+02:00 (Berlin) Detailseite zuletzt geändert am 2024-01-04T02:19:04+01:00 (Berlin) ISBN/EAN: 9780890063507
ISBN - alternative Schreibweisen: 0-89006-350-8, 978-0-89006-350-7 Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe: Titel des Buches: microelectronic, reliability
