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Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) - gebunden oder broschiert

ISBN: 0890063508

[SR: 11687611], Hardcover, [EAN: 9780890063507], Artech House Publishers, Artech House Publishers, Book, [PU: Artech House Publishers], Artech House Publishers, A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi, 13725, Semiconductors, 13707, Electronics, 227544, Electrical & Electronics, 173515, Engineering, 173507, Engineering & Transportation, 1000, Subjects, 283155, Books, 14631, Technology, 14637, History of Technology, 14639, Nanotechnology, 14644, Safety & Health, 271634011, Social Aspects, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 465600, New, Used & Rental Textbooks, 468220, Business & Finance, 468226, Communication & Journalism, 468204, Computer Science, 468224, Education, 468212, Engineering, 468206, Humanities, 468222, Law, 468228, Medicine & Health Sciences, 684283011, Reference, 468216, Science & Mathematics, 468214, Social Sciences, 684300011, Test Prep & Study Guides, 2349030011, Specialty Boutique, 283155, Books

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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance: Integrity, Assessment and Assurance (Volume 2) - Pollino, E.
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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance: Integrity, Assessment and Assurance (Volume 2) - gebunden oder broschiert

1989, ISBN: 0890063508

ID: 20347317355

[EAN: 9780890063507], Gebraucht, guter Zustand, [PU: Artech House], COMPUTING, Technology|Electronics|General, Technology|Electronics|Microelectronics, Technology|Electronics|Semiconductors, Technology|General, Volume 2. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket.

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Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) - Pollino, Emiliano
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Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) - gebrauchtes Buch

1989, ISBN: 0890063508

ID: 13263242263

[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [PU: Artech House Publishers], Technology|Electronics|General, Technology|Electronics|Microelectronics, Technology|Electronics|Semiconductors, Technology|General, Great condition for a used book! Minimal wear.

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1989, ISBN: 0890063508

ID: 9026743064

[EAN: 9780890063507], [PU: Artech House Publishers], Technology|Electronics|General, Technology|Electronics|Microelectronics, Technology|Electronics|Semiconductors, Technology|General

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ISBN: 9780890063507

ID: 984906136

Artech House Publishers. Hardcover. New. NEW BOOK, Artech House Publishers

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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance

A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Detailangaben zum Buch - Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance


EAN (ISBN-13): 9780890063507
ISBN (ISBN-10): 0890063508
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 1989
Herausgeber: ARTECH HOUSE INC
556 Seiten
Gewicht: 1,089 kg
Sprache: eng/Englisch

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Buch zuletzt gefunden am 19.07.2017 13:04:44
ISBN/EAN: 9780890063507

ISBN - alternative Schreibweisen:
0-89006-350-8, 978-0-89006-350-7


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