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La diffraction cohérente des rayons X: Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques (French Edition) - Vincent Jacques
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Vincent Jacques:
La diffraction cohérente des rayons X: Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques (French Edition) - Taschenbuch

ISBN: 6131509239

Paperback, [EAN: 9786131509230], Editions universitaires europeennes, Editions universitaires europeennes, Book, [PU: Editions universitaires europeennes], Editions universitaires europeennes, La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace réel à l'aide d'algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à l'étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers l'étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés., 4, Children's Books, 2967, Action & Adventure, 3371, Activities, Crafts & Games, 2787, Animals, 2870, Arts, Music & Photography, 2351, Biographies, 3284, Cars, Trains & Things That Go, 2655476011, Children's Cookbooks, 2970, Classics, 3014, Comics & Graphic Novels, 2909, Computers & Technology, 7009080011, Early Learning, 3176, Education & Reference, 2977, Fairy Tales, Folk Tales & Myths, 3344091011, Geography & Cultures, 1084192, Growing Up & Facts of Life, 2917, History, 3069, Holidays & Celebrations, 3003, Humor, 2966, Literature & Fiction, 3016, Mysteries & Detectives, 3101, Religions, 3013, Science Fiction & Fantasy, 3207, Science, Nature & How It Works, 3400, Sports & Outdoors, 1000, Subjects, 283155, Books, 14545, Physics, 14547, Acoustics & Sound, 16052391, Applied, 13445, Astrophysics, 13514, Biophysics, 13567, Chaos Theory, 16052341, Chemical Physics, 13449, Cosmology, 14554, Dynamics, 226697, Electromagnetism, 13839, Electron Microscopy, 52215011, Energy, 52164011, Engineering, 16052121, Entropy, 226502, Gas Mechanics, 13605, Geophysics, 14561, Gravity, 14563, Light, 14567, Mathematical Physics, 14569, Mechanics, 13850, Microscopy, 14573, Nanostructures, 14576, Nuclear Physics, 14589, Optics, 16052671, Quantum Chemistry, 14581, Quantum Theory, 14592, Relativity, 14585, Solid-State Physics, 14596, System Theory, 14598, Time, 14601, Waves & Wave Mechanics, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 491732, Physics, 468216, Science & Mathematics, 465600, New, Used & Rental Textbooks, 2349030011, Specialty Boutique, 283155, Books

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La Diffraction Coherente Des Rayons X - Vincent Jacques
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La Diffraction Coherente Des Rayons X - neues Buch

ISBN: 9786131509230

Vincent Jacques,Paperback, French-language edition,Pub by AV Akademikerverlag GmbH & Co. KG. Textbooks New Books ~~ Science~~ Physics ~~ General La-Diffraction-Coherente-Des-Rayons-X~~Vincent-Jacques AV Akademikerverlag GmbH & Co. KG. La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace réel à l'aide d'algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à l'étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers l'étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés.

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ISBN: 6131509239

Taschenbuch, [EAN: 9786131509230], Editions universitaires europeennes, Editions universitaires europeennes, Book, [PU: Editions universitaires europeennes], Editions universitaires europeennes, 56375011, Physik, 56376011, Akustik & Schall, 56427011, Angewandte Physik, 56429011, Astrophysik & Raumforschung, 56428011, Biophysik, 56270011, Chaos & Systeme, 56090011, Chemische Physik, 56378011, Dynamik, 56414011, Elektromagnetismus, 56383011, Energie, 56422011, Entropie, 56398011, Festkörperphysik, 56127011, Geophysik, 56404011, Kernphysik, 56377011, Kosmologie, 56386011, Licht, 56421011, Maschinenbau & Technik, 56272011, Mathematische Physik, 56389011, Mechanik, 56390011, Molekularphysik, 56391011, Nanostrukturen, 56392011, Optik, 56397011, Quantentheorie, 56393011, Relativität, 56385011, Schwerkraft, 1320310031, Statik, 56395011, Systemtheorie, 56396011, Wellen & Wellenmechanik, 56201011, Zeit, 56047011, Fachbücher, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher

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La diffraction cohérente des rayons X - Jacques, Vincent
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Jacques, Vincent:
La diffraction cohérente des rayons X - Taschenbuch

2010, ISBN: 6131509239

Gebundene Ausgabe, ID: 8244920

Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques - Buch, gebundene Ausgabe, 272 S., Beilagen: Paperback, Erschienen: 2010 Editions universitaires europeennes EUE

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Details zum Buch
La diffraction cohérente des rayons X

La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace réel à l'aide d'algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à l'étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers l'étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés.

Detailangaben zum Buch - La diffraction cohérente des rayons X


EAN (ISBN-13): 9786131509230
ISBN (ISBN-10): 6131509239
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: AV Akademikerverlag GmbH & Co. KG.

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ISBN/EAN: 6131509239

ISBN - alternative Schreibweisen:
613-1-50923-9, 978-613-1-50923-0


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