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11: Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology) - Bharat Bhushan, Harald Fuchs
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Bharat Bhushan, Harald Fuchs:
11: Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology) - Taschenbuch

2010, ISBN: 364209869X

[SR: 14850305], Paperback, [EAN: 9783642098697], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], 2010-11-16, Springer, The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. Real industrial applications are included., 226709, Polymers & Textiles, 226704, Materials & Material Science, 173515, Engineering, 173507, Engineering & Transportation, 1000, Subjects, 283155, Books, 713557011, Materials Science, 226704, Materials & Material Science, 173515, Engineering, 173507, Engineering & Transportation, 1000, Subjects, 283155, Books, 13571, Analytic, 13570, Chemistry, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 13588, Physical & Theoretical, 16052641, Electrochemistry, 16052591, Physical Chemistry, 16052671, Quantum Chemistry, 13570, Chemistry, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 13850, Microscopes & Microsocopy, 13837, Experiments, Instruments & Measurement, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 226697, Electromagnetism, 16052201, Electricity, 16052241, Magnetism, 14545, Physics, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 14585, Solid-State Physics, 13731, Superconductivity, 14545, Physics, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 14639, Nanotechnology, 14631, Technology, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 491718, Chemistry, 468216, Science & Mathematics, 465600, New, Used & Rental Textbooks, 2349030011, Specialty Boutique, 283155, Books, 491732, Physics, 468216, Science & Mathematics, 465600, New, Used & Rental Textbooks, 2349030011, Specialty Boutique, 283155, Books

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2010, ISBN: 364209869X

Taschenbuch, [EAN: 9783642098697], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], 2010-11-16, Springer, 60449011, Chemie für Ingenieure, 60448011, Ingenieurwesen & Technik, 60447011, Architektur, Technik & Ingenieurswesen, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 60556011, Materialwissenschaft, 60448011, Ingenieurwesen & Technik, 60447011, Architektur, Technik & Ingenieurswesen, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 56398011, Festkörperphysik, 56375011, Physik, 56047011, Wissenschaft, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 1320310031, Statik, 56375011, Physik, 56047011, Wissenschaft, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 56444011, Nanotechnologie, 56441011, Technologie, 56047011, Wissenschaft, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher

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Applied Scanning Probe Methods XI - Bharat Bhushan; Harald Fuchs
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Applied Scanning Probe Methods XI - Taschenbuch

ISBN: 9783642098697

ID: 9783642098697

Engineering; Nanotechnology and Microengineering; Spectroscopy and Microscopy; Surface and Interface Science, Thin Films; Nanotechnology; Surfaces and Interfaces, Thin Films; Polymer Sciences AFM, REM, ceramics, microscopy, polymer, spectroscopy, ultrasound Books Book (Paperback Initiative), Springer Science+Business Media

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Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology) - Bharat Bhushan (Editor), Harald Fuchs (Editor)
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Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques (NanoScience and Technology) - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642098697

Gebundene Ausgabe, ID: 599426157

Springer, 2010-11-19. Softcover reprint of hardcover 1. Paperback. Used:Good., Springer, 2010-11-19

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2010, ISBN: 9783642098697

Gebundene Ausgabe, ID: 17261546

Scanning Probe Microscopy Techniques, Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009, Softcover, Buch, [PU: Springer Berlin]

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Details zum Buch
Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology)

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.

Detailangaben zum Buch - Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology)


EAN (ISBN-13): 9783642098697
ISBN (ISBN-10): 364209869X
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer-Verlag GmbH
292 Seiten
Gewicht: 0,445 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 27.04.2011 16:47:34
Buch zuletzt gefunden am 11.12.2017 14:25:01
ISBN/EAN: 364209869X

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-09869-X, 978-3-642-09869-7


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