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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science
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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science - neues Buch

ISBN: 9783642087189

ID: 978364208718

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes. Books, Science and Nature, Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Books>Science and Nature, Springer Berlin Heidelberg

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 als Buch von - Springer Berlin Heidelberg
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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 als Buch von - neues Buch

2001, ISBN: 9783642087189

ID: 819612629

Progress in Transmission Electron Microscopy 2 ab 176.49 EURO Applications in Materials Science Springer Series in Surface Sciences. Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001. Progress in Transmission Electron Microscopy 2 ab 176.49 EURO Applications in Materials Science Springer Series in Surface Sciences. Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001. Bücher > Wissenschaft > Technik, [PU: Springer, Berlin/Heidelberg/New York, NY]

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Xiao-Feng Zhang
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Xiao-Feng Zhang:
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Taschenbuch

ISBN: 9783642087189

Paperback, [PU: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG], This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications., Materials Science

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Springer Series in Surface Sciences)
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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Springer Series in Surface Sciences) - Taschenbuch

2001, ISBN: 3642087183

ID: 19185849502

[EAN: 9783642087189], Neubuch, [PU: Springer], This item is printed on demand for shipment within 3 working days.

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Springer Series in Surface Sciences) - Zhang, Xiao-Feng [Editor]; Zhang, Ze [Editor];
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Zhang, Xiao-Feng [Editor]; Zhang, Ze [Editor];:
Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Springer Series in Surface Sciences) - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642087189

ID: 13549449880

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Springer Series in Surface Sciences)

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.

Detailangaben zum Buch - Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Springer Series in Surface Sciences)


EAN (ISBN-13): 9783642087189
ISBN (ISBN-10): 3642087183
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer-Verlag GmbH
328 Seiten
Gewicht: 0,497 kg
Sprache: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 3642087183

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-08718-3, 978-3-642-08718-9


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