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002: Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition) - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
002: Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition) - gebunden oder broschiert

ISBN: 0890063508

[SR: 7478539], Hardcover, [EAN: 9780890063507], Artech House Publishers, Artech House Publishers, Book, [PU: Artech House Publishers], Artech House Publishers, A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi, 13725, Semiconductors, 13707, Electronics, 227544, Electrical & Electronics, 173515, Engineering, 173507, Engineering & Transportation, 1000, Subjects, 283155, Books, 14631, Technology, 14637, History of Technology, 14639, Nanotechnology, 14644, Safety & Health, 271634011, Social Aspects, 75, Science & Math, 1000, Subjects, 283155, Books, 465600, New, Used & Rental Textbooks, 468220, Business & Finance, 468226, Communication & Journalism, 468204, Computer Science, 468224, Education, 468212, Engineering, 468206, Humanities, 468222, Law, 468228, Medicine & Health Sciences, 684283011, Reference, 468216, Science & Mathematics, 468214, Social Sciences, 684300011, Test Prep & Study Guides, 2349030011, Specialty Boutique, 283155, Books

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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - Pollino, Emiliano
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Pollino, Emiliano:
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - gebrauchtes Buch

1989, ISBN: 0890063508

ID: 12908936352

[EAN: 9780890063507], Gebraucht, sehr guter Zustand, [SC: 3.0], [PU: Artech House Inc,], HALBLEITER / NACHSCHLAGEWERKE, Technology|Electronics|General, Technology|Electronics|Microelectronics, Technology|Electronics|Semiconductors, Technology|General, 556 Seiten Gepflegtes ehemaliges Bibliotheksexemplar mit den üblichen Kennzeichnungen (z.B. Barcode und Inventarisierungsnummer); in der Regel foliiert (Umschlag aus selbstklebender Folie). Zustand unter Berücksichtigung des Alters gut. Tagesaktueller, sicherer und weltweiter Versand. Wir liefern grundsätzlich mit beiliegender Rechnung. 669737.01 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1089, Books

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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - Pollino, Emiliano
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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance (Materials Science Library) - gebunden oder broschiert

1989, ISBN: 0890063508

ID: 247806

Gebundene Ausgabe 556 Seiten Gebundene Ausgabe Gepflegtes ehemaliges Bibliotheksexemplar mit den üblichen Kennzeichnungen (z.B. Barcode und Inventarisierungsnummer); in der Regel foliiert (Umschlag aus selbstklebender Folie). Zustand unter Berücksichtigung des Alters gut. Tagesaktueller, sicherer und weltweiter Versand. Wir liefern grundsätzlich mit beiliegender Rechnung. 669737.01 Halbleiter / Nachschlagewerke gebraucht; gut, [PU:Artech House Inc,]

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Microelectronic Reliability: Integrity, Assessment and Assurance v. 2 - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
Microelectronic Reliability: Integrity, Assessment and Assurance v. 2 - gebunden oder broschiert

ISBN: 9780890063507

Hardback, [PU: Artech House Publishers], A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi, Electronics & Communications Engineering

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Microelectronic Reliability:  Integrity Assessment And Assurance - Emiliano Pollino
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Emiliano Pollino:
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment And Assurance - neues Buch

ISBN: 9780890063507

ID: 978089006350

Microelectronic Reliability: Integrity Assessment And Assurance Emiliano Pollino, Books, Microelectronic Reliability: Integrity Assessment And Assurance Books, Artech House Publishers

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Details zum Buch
Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance

A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Detailangaben zum Buch - Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance


EAN (ISBN-13): 9780890063507
ISBN (ISBN-10): 0890063508
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 1989
Herausgeber: ARTECH HOUSE INC
556 Seiten
Gewicht: 1,089 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 28.07.2007 05:00:15
Buch zuletzt gefunden am 16.12.2017 11:16:53
ISBN/EAN: 0890063508

ISBN - alternative Schreibweisen:
0-89006-350-8, 978-0-89006-350-7


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