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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Siegfried Hofmann
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Siegfried Hofmann:

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - neues Buch

ISBN: 3642273815

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science ab 170.99 € als pdf eBook: A User-Oriented Guide. Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik, Medien > Bücher… Mehr…

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Andreas Luszczak:

Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science : A User-Oriented Guide - neues Buch

ISBN: 9783642273810

This book presents the basics of Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science in logical order from sample preparation and instrument setup through data acquisition to… Mehr…

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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science (eBook) - Siegfried Hofmann,
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Siegfried Hofmann,:
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science (eBook) - neues Buch

ISBN: 9783642273810

by Siegfried Hofmann, PRINT ISBN: 9783642273803 E-TEXT ISBN: 9783642273810 Additional ISBNs: 3642273807, 3642431739, 9783642273803, 9783642431739 Springer Nature eBook Other pricing struc… Mehr…

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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - Erstausgabe

2012, ISBN: 9783642273810

A User-Oriented Guide, eBooks, eBook Download (PDF), Auflage, [PU: Springer-Verlag], [ED: 1], Springer-Verlag, 2012

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2012, ISBN: 9783642273810

A User-Oriented Guide, eBooks, eBook Download (PDF), 2013, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2012

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3642273815

Detailangaben zum Buch - Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science


EAN (ISBN-13): 9783642273810
ISBN (ISBN-10): 3642273815
Erscheinungsjahr: 2012
Herausgeber: Springer-Verlag
528 Seiten
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2012-12-04T07:33:57+01:00 (Berlin)
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ISBN/EAN: 3642273815

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-27381-5, 978-3-642-27381-0
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: hofman, siegfried hofmann, andreas luszczak, teubner andreas
Titel des Buches: auge auge, photo, material, ray spectroscopy

Daten vom Verlag:

Autor/in: Siegfried Hofmann
Titel: Springer Series in Surface Sciences; Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science - A User-Oriented Guide
Verlag: Springer; Springer Berlin
528 Seiten
Erscheinungsjahr: 2012-10-25
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
309,23 € (DE)
317,90 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XX, 528 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Auger electron spectroscopy; interface analysis; scanning Auger microscopy; surface analysis; thin-film depth profiling; C; Condensed Matter Physics; Spectroscopy; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Chemistry and Materials Science; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Materialwissenschaft; BC

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