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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Autor: | |
Titel: | |
ISBN-Nummer: |
Detailangaben zum Buch - Inside NAND Flash Memories Rino Micheloni Author
EAN (ISBN-13): 9789048194315
ISBN (ISBN-10): 9048194318
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer-Verlag New York, LLC Digital >16
600 Seiten
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2011-08-02T10:12:37+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-03-16T15:04:09+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9789048194315
ISBN - alternative Schreibweisen:
90-481-9431-8, 978-90-481-9431-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: luca crippa, marelli
Titel des Buches: flash, inside outside, look inside, memories
Daten vom Verlag:
Autor/in: Rino Micheloni; Luca Crippa; Alessia Marelli
Titel: Inside NAND Flash Memories
Verlag: Springer; Springer Netherland
582 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-07-27
Dordrecht; NL
Sprache: Englisch
223,63 € (DE)
229,90 € (AT)
260,00 CHF (CH)
Available
X, 582 p.
EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Devices; Flash Memories; NAND Memories; Solid State Circuits; integrated circuit; single-electron transistor; static-induction transistor; C; Electronic Circuits and Systems; Mass Spectrometry; Condensed Matter Physics; Spectroscopy; Engineering; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); BC
Preface. Acknowledgements. 1 Market and applications for NAND flash memories; Gregory Wong. 2 NAND overview: from memory to systems; R. Micheloni, A. Marelli and S. Commodaro. 3 Program and erase of NAND memory arrays; Cristoph Friederich. 4 Reliability issues of NAND flash memories; C. Zambelli, A. Chimenton and P. Olivo. 5 Charge trap NAND technologies ; Alessandro Grossi. 6 Control logic; A. Marelli, R. Micheloni and R. Ravasio. 7 NAND DDR interface; Andrea Silvagni. 8 Sensing circuits; L. Crippa and R. Micheloni. 9 Parasitic effects and verify circuits; L. Crippa and R. Micheloni. 10 MLC storage; L. Crippa and R. Micheloni. 11 Charge pumps, voltage regulators and HV switches; R. Micheloni and L. Crippa. 12 High voltage overview; R. Micheloni and A. Marelli. 13 Redundancy; A. Marelli and R. Micheloni . 14 Error correction codes; T. Zhang, A. Marelli and R. Micheloni. 15 NAND design for testability and testing; Andrea Silvagni. 16 XLC storage; R. Micheloni and L. Crippa. 17 Flash cards; A. Ghilardelli and S. Corno. 18 Low power 3D-integrated SSD; K. Takeuchi. 19 Radiation effects on NAND Flash memories; M. Bagatin, G. Cellere, S. Gerardin and A. Paccagnella. About the authors. Index.Flash NAND design NAND – SSD co-development Radiation effects on Flash memories Charge trap technology overview Includes supplementary material: sn.pub/extras
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