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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 36) - Reimer, Ludwig
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Reimer, Ludwig:

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 36) - Taschenbuch

1989, ISBN: 9783540504993

Springer, Taschenbuch, Auflage: 2nd ed. 560 Seiten, Publiziert: 1989-05-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 1.85 kg, Chemie, Naturwissenschaften & Technik, Kategorien, Bücher, Materialien … Mehr…

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Reimer, Ludwig:

Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Second Edition - Taschenbuch

1989, ISBN: 3540504990

[EAN: 9783540504993], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 6.0], [PU: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co.], Science|Electron Microscopes & Microscopy, gebraucht sehr gut; Schnitt g… Mehr…

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Ludwig Reimer:
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Second Edition - Taschenbuch

1989

ISBN: 9783540504993

Softcover gebraucht sehr gut; Schnitt gebräunt; Seiten leicht angehend gebräunt; Einband hinten zwei leichte bräunliche fast nicht sichtbare Flecken; kein Namenseintrag oder Widmung Buch … Mehr…

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Hawkes, P.W. und Ludwig Reimer:
Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation and Microanalysis - Taschenbuch

1989, ISBN: 3540504990

[EAN: 9783540504993], D'occasion, bon état, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], Gepflegter, sauberer Zustand. 2. Auflage. Innen: Seiten eingerissen, Seiten vergilbt. Aus der Auflösung einer… Mehr…

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Reimer, Ludwig:
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Second Edition - Taschenbuch

ISBN: 3540504990

Sehr gut Softcover Deutsch, [PU: Springer, Berlin/Heidelberg]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 36)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540504993

Detailangaben zum Buch - Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 36)


EAN (ISBN-13): 9783540504993
ISBN (ISBN-10): 3540504990
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 1989
Herausgeber: Hawkes, P.W. Springer

Buch in der Datenbank seit 2007-03-30T07:22:04+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-12-17T00:28:49+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783540504993

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-50499-0, 978-3-540-50499-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: ludwig reimer
Titel des Buches: transmission electron microscopy, image, microscopy and microanalysis

Daten vom Verlag:

Autor/in: Ludwig Reimer
Titel: Springer Series in Optical Sciences; Transmission Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis
Verlag: Springer; Springer Berlin
547 Seiten
Erscheinungsjahr: 1989-05-19
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Deutschland.
Gewicht: 0,840 kg
Sprache: Englisch
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
Not available, publisher indicates OP

BC; Book; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; C; Solid State Physics; Physics and Astronomy; Spectroscopy and Microscopy; Biological and Medical Physics, Biophysics; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; Biophysik; Medizinische Physik; BB; BC; EA

1. Introduction.- 2. Particle Optics of Electrons.- 3. Wave Optics of Electrons.- 4. Elements of a Transmission Electron Microscope.- 5. Electron-Specimen Interactions.- 6. Scattering and Phase Contrast for Amorphous Specimens.- 7. Kinematical and Dynamical Theory of Electron Diffraction.- 8. Diffraction Contrast and Crystal-Structure Imaging.- 9. Analytical Electron Microscopy.- 10. Specimen Damage by Electron Irradiation.- References.

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