2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… Mehr…
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2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Mehr…
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2008, ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … Mehr…
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2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
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2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
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Luysberg, Martina, Karsten Tillmann und Thomas Weirich:
EMC 2008 Vol 1: Instrumentation and Methods - gebunden oder broschiert2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Mehr…
2008
ISBN: 9783540851547
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Autor: | |
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Detailangaben zum Buch - EMC 2008: Vol 1: Instrumentation and Methods
EAN (ISBN-13): 9783540851547
ISBN (ISBN-10): 3540851542
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2008
Herausgeber: Luysberg, Martina, Tillmann, Karsten, Weirich, Thomas, Springer
862 Seiten
Gewicht: 1,388 kg
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2008-09-04T23:14:00+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-04-10T05:45:42+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3540851542
ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-85154-2, 978-3-540-85154-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: schryvers, karsten thomas, tillmann, weirich, luys, martina thom, till thomas, luy
Titel des Buches: aachen september, die instrumentation der, 2008, tillmann, emc
Daten vom Verlag:
Autor/in: Martina Luysberg; Karsten Tillmann; Thomas Weirich
Titel: EMC 2008 - Vol 1: Instrumentation and Methods
Verlag: Springer; Springer Berlin
862 Seiten
Erscheinungsjahr: 2008-08-26
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XXXVIII, 862 p.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Allgemeines, Lexika; Mathematik und Naturwissenschaften; Verstehen; Astronomie, Kartographie; calculus; electron; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscopy; Physics and Astronomy; EA; BC
Instrumentation and Methods.- TEM and STEM instrumentation and Electron Optics.- TEM and STEM methods.- SEM/FIB Instrumentation and Methods.- Other Microscopies.- Image analysis and Processing.- Sample Preparation for Materials Science and Biology.Weitere, andere Bücher, die diesem Buch sehr ähnlich sein könnten:
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