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Introduction to Advanced System-on-Ch..., Larsson, Erik - Larsson, Erik
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Larsson, Erik:

Introduction to Advanced System-on-Ch..., Larsson, Erik - gebrauchtes Buch

ISBN: 1402032072

Autor:Larsson, Erik. Indem Sie ein gut erhaltenes Buch aus zweiter Hand kaufen, unterstützen Sie eine fortlaufende Wiederverwendung sowie die Verbreitung der Liebe zum Buch durch erneutes… Mehr…

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Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - Erik Larsson
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Erik Larsson:

Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - gebunden oder broschiert

ISBN: 9781402032073

(ISBN-13: 9781402032073, 978-1402032073. SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The book is divided int… Mehr…

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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - gebunden oder broschiert

2005

ISBN: 9781402032073

Springer, Hardcover, Auflage: 2005, 408 Seiten, Publiziert: 2005-11-07T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.66 kg, Civil & Environmental, Engineering & Transportation, Subjects, Books, Desig… Mehr…

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2005, ISBN: 1402032072

gebundene Ausgabe 388 Seiten; Gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rück… Mehr…

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2005, ISBN: 1402032072

2005 Gebundene Ausgabe Konstruktion, Entwurf, Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile), boundaryscan; SOCtestdesign; Transistor; automation; consumption; inte… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

1402032072


SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. TOC:Part I. Testing Concepts. Introduction. Design Flow. Design for Test. Boundary Scan.- Part II. SoC Design for Testability. System Modeling. Test Conflicts. Test Power Dissipation. Test Access Mechanism. Test Scheduling.- Part III. SoC Test Applications. A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling. An Integrated Framework for the Design and Optimization of SoC Test Solutions. Efficient Test Solutions for Core-Based Designs. Integrating Core Selection in the System-On-Chip Test Solution Design-Flow. Defect-Aware Test Scheduling. An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling Under Ate Memory Depth Constraint.- Appendix 1. Benchmarks.- References.- Index.

Detailangaben zum Buch - Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)


EAN (ISBN-13): 9781402032073
ISBN (ISBN-10): 1402032072
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2005
Herausgeber: Springer
388 Seiten
Gewicht: 1,093 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-07-11T13:25:27+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-10-06T23:37:03+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 1402032072

ISBN - alternative Schreibweisen:
1-4020-3207-2, 978-1-4020-3207-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: larsson
Titel des Buches: system modelling and optimization, design systems chip, design sweden, introduction advanced system chip test design and optimization, opti, little design possible, looking design, best test design

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